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OTA暗室
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产品介绍
进行OTA测试的暗室环境主要有单天线测量和多探头测量两种。由于实际传输的矢量电磁波可以分成水平极化和垂直极化两个正交分量,因此通过一个或多个双极化测量天线(或RF探头)可以捕获被测设备的辐射性能,并利用已知辐射特性的电偶极子或环型天线预先校准测量路径的损耗并补偿,最终通过天线经典理论计算可以得到被测设备的天线收发性能。
OTA暗室主要有远场暗室、近场暗室和紧缩场暗室等。
 




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