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IC-EMI测试系统
抗干扰开发系统
抗干扰开发系统
E1 set
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产品介绍
E1抗干扰性开发系统是一套集成电路板开发过程中进行抗干扰分析的 EMC工具系统。使用E1抗干扰开发系统,能够快速精准地定位脉冲群干扰和静电放电干扰的原因(薄弱点),
使研发人员能够准确针对薄弱点设计恰当的 EMC措施,并且使用 E1 评估 EMC措施的效果。
 

 
E1 set包括一个脉冲群干扰发生器、九种不同的电场和磁场源探头、以及其他各类附件。
 



 
E1 set 主要组成:
(1)SGZ 21 脉冲群发生器
(2)S21 光传感器
(3)BS 02 磁场源
(4)BS 04DB 磁场源
(5)BS 05D 磁场源
(6)BS 05DU 磁场源
(7)ES 00 电场源
(8)ES 01 电场源
(9)ES 02 电场源
(10)ES 05D 电场源
(11)ES 08D 电场源
(12)MS02 磁场探头
 
S21光学传感器


 
主要参数:
  • 传输范围:DC-10Mbps
  • 光纤接口:2.2mm
  • 电源电压:(3-5)V
  • 电流输入:10mA
 
SGZ 21 脉冲群发生器


 
主要参数:
  • 上升时间:ca. 2ns
  • 下降时间:ca. 10ns
  • 峰值:ca. 0-1500V
 
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