该探头套组用于测量IC引脚的传导发射(采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量)。它基于IEC61967-4标准,分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。
该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。
使用朗格尔电磁兼容技术公司的ICE1集成电路IC测试环境,可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程,并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。
P603探头属于1Ω探头用于直接测量集成电路引脚上的高频(RF)电流,主要用于接地引脚(Vss)和信号引脚的测量。1Ω 高频电流计拥有针脚触点,可以接触到并对集成电路的每个引脚进行测量。
1Ω电流表P603的技术规格:
- 频率范围:9kHz~3GHz
- 测量输出:50Ω,SMB
- 电压传递系数:-6dB
- 分流器阻抗:1Ω
- 最大功率损耗:2.5W