P603-1 / P750 set探头套组用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。它基于IEC61967-4标准，分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。
该探头套组用于测量IC引脚的传导发射（采用1欧姆/150欧姆直接耦合进行测量）。它基于IEC61967-4标准，分别有一个用于测试电流和电压的探头。该探头能够接触到测试IC的每个引脚。
该探头套组能够确保较高的测量重复精度和测量的可比较性。
使用LANGER的ICE1集成电路IC测试环境，可以对待测集成电路进行测试。芯片扫描ChipScan-ESA 软件系统可以控制测量过程，并对所有引脚的测量数据进行存储以及快速系统地分析比较。
P603-1探头用于1Ω探头用于直接测量集成电路引脚上的高频（RF）电流，主要用于接地引脚（Vss）和信号引脚的测量。1Ω 高频电流计拥有针脚触点，可以接触到并对集成电路的每个引脚进行测量。
1Ω电流表P603-1的技术规格：
（1） 频率范围：DC~3GHz
（2） 测量输出：50Ω，SMB
（3） 电压传递系数：-6dB
（4） 分流器阻抗：1Ω
（5） 最大功率损耗：2.5W
P750 高频电压表带有150Ω的耦合电路，用于测量集成电路引脚的高频电压。P750探头具备高阻抗的电容耦合输入，因此能够测量受测物上不同引脚的射频电压。
150Ω电压表P750的技术规格：
（1） 频率范围：150kHz~3GHz
（2） 输入阻抗：150Ω
（3） 测量输出：50Ω，SMB
（4） 电压传递系数：-15.2dB
（5） 最大直流输入电压：50V
（6） 最大射频输入电压：3.5V
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