Home其中主要测试方法包括：
北美的汽车工程协会（SAE）建议的使用TEM小室测量集成电路的辐射发射
SAE提出的磁场探头和电场探头表面扫描测量集成电路的辐射发射
荷兰某公司建议的使用工作台法拉第笼（WBFC）进行集成电路传导发射测量
德国标准化组织VDE建议的使用1Ω电阻进行地回路传导电流测量
日本的研究人员建议的使用磁场探头进行传导发射测量
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IEC/TC47标委会专门对各种测试方法进行分析，最终制定了针对集成电路的EMI和EMS的测试标准，即IEC 61967系列和IEC 62132系列标准，以及标准IEC 62215等，与IEC 62132互补，更加全面地考虑到了集成电路遭受电磁干扰时的情形。
随着电磁环境的日益复杂， EMC问题变得越发重要， 解决EMC问题， 首先就得从集成电路的EMC设计和检测开始， 才能获得更有效的解决方案。
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ATS可提供完善的集成电路IC-EMC测试解决方案，ATS拥有专业的工程师、强大的团队和丰富的经验，已为众多国内外知名实验室、知名大型企业提供了相关EMC测试设备和系统，可为您提供交钥匙的检测系统工程服务。
详情请见：集成电路IC-EMC测试设备与系统
